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BR2940F系列二極管反向電流測試儀

BR2940F微電腦兩極管反向峰值電流測試儀

特點；

    國標(biāo)的直流測試法。

高靈敏度，高精度，寬量程?？蓽y從幾個納安到1mA的反向電流。

可設(shè)置測反向電流、擊穿點電壓、擊穿斜率、帶電容(大1uf)測反向電流共4種方式。既適合于極低漏電流的測試，又適合二極管的高溫測試。

可輔助分析管子的軟硬擊穿和異常擊穿特以及漏電形式。

液晶顯示：主參數(shù)大字顯示，輔助參數(shù)小字顯示。

設(shè)置數(shù)據(jù)自動保存，下次開機自動調(diào)出，給使用帶來方便。

可設(shè)置參數(shù)超出報警的條件。擊穿斜率測試模式可代示波器測轉(zhuǎn)折點。

一：產(chǎn)品簡介:

BR2940F型二極管反向峰值電流測試儀,是根據(jù)國標(biāo)GB4023.Ⅳ,IEC747-2.Ⅳ設(shè)計的。它采用直流法測試兩極管，其測試電壓是機內(nèi)產(chǎn)生的，其值不受電源的影響。而且本機的特點是在被測管的P-N結(jié)充滿電后才測量反向電流，可排除PN結(jié)電容的影響，保證符合標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，從而保證了測試的準(zhǔn)確度，且可測試小到幾個納安的漏電流。本機可擴充(可選件)自動測試功能。

本機的方框圖如下:

VR:

1.1  幅度15-120V(±1.5％±0.2V),120-1200V(±1.5％±2V)兩檔,檔位自動設(shè)置。測試擊穿點電壓和斜率在30-1200V間設(shè)置(方式1-2)。（為汽車業(yè)設(shè)計的款式）

幅度15-200V(±2.5％±0.5V),201-2000V(±2.5％±2V)兩檔,檔位自動設(shè)置。測試擊穿點電壓和斜率在30-2000V間設(shè)置(方式1-2)。（為電子業(yè)設(shè)計的款式）

  1.2  穩(wěn)定度優(yōu)于電源電壓變化的±3％±1V/8h。

  1.3  液晶顯示,分辯力 1V。(低檔為0.1V,僅方式0)

  2.   IR： 

  2.1  滿量程分4uA,40 uA,400uA,2000uA共4檔,檔位自動設(shè)置。

設(shè)置電壓的限制如下：(2KV機)

2.2  準(zhǔn)確度:≤顯示值的±2.5％±4字,(2000uA檔≤顯示值的±5％±5字-僅到1000uA) 。

2.3  分辯力：分別為1nA(4uA檔)-1uA(2000uA檔)。

2.4  報警設(shè)置：顯示檔的1-100%。

2.5  帶電容測試：大電容1uf。(帶電容測試方式僅限于手動測試)

  3.   空載電流：當(dāng)無測試合,無被測管,VR=1KV時，IR顯示≤5字。

  4.   使用條件：

       電    源：220V±5％，頻率50-60HZ。

       環(huán)境溫度：0-40℃。

       相對濕度：≤75％RH。

       開機預(yù)熱2分鐘后使用。

       工作方式：連續(xù)。

  5.   其它；

       外形尺寸：240*260*100mm。

       重    量：3Kg。

       耗    電：≤15VA(為電子業(yè)設(shè)計的機型≤20VA)。

三：使用方法

    將測試合的插頭按左右順序插于主機面板孔內(nèi)，開啟電源。顯示：

為電子工業(yè)設(shè)計的款式（VR15-2000V）因使用電子管作高壓輸出，故要求開機至少半分鐘后，待電子管正常工作后再行設(shè)置。

在箭頭←指“方式”欄時，按“設(shè)置”鍵,可在常規(guī)(方式0)/測VR(方式1)/測Rr(方式2)/常規(guī)*C(方式3)共4種測試方式中選其一。按“確定”轉(zhuǎn)第2頁，按“選擇”轉(zhuǎn)報警與否的修改。（含自動測試功能的機型{方式3}為自動測試）

箭頭←指“報警”欄時，按“設(shè)置”對報警功能開或關(guān)，按“確定”轉(zhuǎn)第2頁，按“選擇”轉(zhuǎn)“方式”的修改。

第二頁的顯示：內(nèi)容與第一頁設(shè)置的測試方式有關(guān)。

第二頁方式0或3(常規(guī)測試)的顯示：

按“確定”認(rèn)可本頁顯示的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)第3頁。

按“選擇”轉(zhuǎn)另一行的修改，←也移到另一行。

在箭頭←指相應(yīng)欄時，按“設(shè)置”鍵,可按數(shù)字和小數(shù)點鍵重新設(shè)定數(shù)據(jù)。按“確定”存儲所作的修改。

VRm和IRm的檔位是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)自動設(shè)置的，不需人為干預(yù)。

VRm只認(rèn)可1位小數(shù)，多余小數(shù)將被刪除。VRm設(shè)置范圍是15-1200V。(為電子業(yè)設(shè)計的款式為15-2000V)

IRm即為報警閥值，在報警開啟時，測得IR超出IRm即發(fā)出報警聲。在報警未開時則不報警。

第二頁方式1(測試VR)的顯示：

按“確定”認(rèn)可本頁顯示的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)第3頁。

按“選擇”轉(zhuǎn)另一行的修改，←也移到另一行。

在箭頭←指相應(yīng)欄時，按“設(shè)置”鍵,可按數(shù)字和小數(shù)點鍵重新設(shè)定數(shù)據(jù)。按“確定”存儲所作的修改,但VRm和VRn不認(rèn)可小數(shù)，輸入小數(shù)將被刪除。因而VRn/VRm的檔位自動設(shè)高檔。

VRn應(yīng)為30-1000V，否則將被刪除要求重輸入。(為電子業(yè)設(shè)計的款式為30-1800V)

VRm應(yīng)大于VRn的110%，范圍35-1200V，否則將被刪除要求重輸入。(為電子業(yè)設(shè)計的款式為35-2000V)

IRm的檔位是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)自動設(shè)置的，不需人為干預(yù)。

VRn、VRm即為報警閥值，在報警開啟時，如在VRn電壓下IR已經(jīng)超出IRm，或直到VRm漏電還未達(dá)IRm即發(fā)出報警聲。在報警未開時則不報警。

       第二頁方式2(測試Rr)的顯示：

按“確定”認(rèn)可本頁顯示的數(shù)據(jù)并轉(zhuǎn)第3頁。

按“選擇”轉(zhuǎn)另一行的修改，←也移到另一行。

在箭頭←指相應(yīng)欄時，按“設(shè)置”鍵,可按數(shù)字和小數(shù)點鍵重新設(shè)定數(shù)據(jù)。按“確定”存儲所作的修改。但VRn不認(rèn)可小數(shù)，輸入小數(shù)將被刪除。因而VRn的檔位自動設(shè)高檔。

VRn應(yīng)為30-1000V，否則將被刪除要求重輸入。(為電子業(yè)設(shè)計的款式為33-1500V)

IRn和IRm的檔位是根據(jù)輸入數(shù)據(jù)自動設(shè)置的，不需人為干預(yù)。但IRm應(yīng)大于IRn的110%以上，否則將被刪除要求重輸入。

Rr在單位K時不認(rèn)可小數(shù)，有小數(shù)將被刪除。Rr單位為M時只認(rèn)可1位小數(shù)，多于1位小數(shù)將被轉(zhuǎn)為單位K。Rr的數(shù)值可任意輸入。

在報警開啟時，如反向擊穿點電阻>Rr、在VRn時已經(jīng)超出IRn、在本機高輸出電壓還未達(dá)到IRm即發(fā)出報警聲。在報警未開時則不報警。

第3頁的顯示：

1秒鐘后進入測試狀態(tài)。

顯示按照測試方式分別：

方式0或3：

方式1：

方式2：

本機會自動巡環(huán)測試，在測試方式0時大約每秒測試3次，測試方式1-2時因機內(nèi)需多次測試，方式3因要等電容充滿電故速度變慢，變慢程度依所設(shè)置的VRn和VRm的差而不同，一般要近1秒。在VRn和VRm的差較少時速度會加快。

所設(shè)參數(shù)本機會自動記憶，關(guān)機不丟失。下次開機時會自動顯示所存的數(shù)據(jù)，如無修改即可立即使用。(按“確定”鍵2次)

使用中需修改設(shè)置參數(shù)或改變測試方式，可在顯示測試結(jié)果的狀態(tài)下按“設(shè)置”鍵進入修改狀態(tài)才能重新設(shè)置或修改。

各測試方式的進一步說明：

方式0的測試參數(shù)VRm的設(shè)置一般設(shè)在擊穿電壓以下，如VRm的設(shè)置非常接近擊穿電壓，則所測試到的IR數(shù)據(jù)會擺動較大。在已知VRm的設(shè)置在擊穿電壓以下較多時則可能芯片有裂痕或邊緣漏電。如IR數(shù)據(jù)不斷上升，則可能芯片受污染。如IR數(shù)據(jù)不斷下降則芯片可能未干燥。當(dāng)測試得出IR數(shù)據(jù)超出報警值時，在開啟報警時會發(fā)出報警聲。

方式1的測試參數(shù)VRn和VRm分別為測試電壓的下限和上限，本機在測試電壓的下限開始每增大5%電壓測試一次，直到測得IR數(shù)據(jù)超過設(shè)置值或VRm上限為止。如在測試電壓的下限和上限范圍內(nèi)正常測得IR數(shù)據(jù)超過設(shè)置值則顯示當(dāng)時的VR、IR數(shù)據(jù)，如在測試電壓的下限時IR已經(jīng)超出或在下限和上限范圍內(nèi)未找到IR數(shù)據(jù)超過設(shè)置值的情況，在開啟報警時會發(fā)出報警聲。如果顯示IR數(shù)據(jù)擺動較大，在被測管正常時往往代表該管是硬擊穿特性。如果顯示VR數(shù)據(jù)不斷下跌，則表示該管為軟擊穿特性。

要注意的是：因為每測試一次，測試電壓增大5%，故方式1的顯示IR數(shù)據(jù)往往超出設(shè)置較多，當(dāng)屬正常情況。

由于本機在方式1時電壓分辨率為1V，故方式1不適合測試30V以下的穩(wěn)壓/雪崩管。

方式2是由設(shè)定兩個電流(IRn和IRm)，用方式1的測試方式測試2次，得到2個電壓(VRn和VRm)，再用公式計算得反向擊穿后的等效電阻的，該電阻代表管子的擊穿特性的硬度，等效電阻越小管子特性越硬。如在測試電壓的下限時IR1已經(jīng)超出設(shè)置值或在下限和本機大電壓范圍內(nèi)未找到IR2數(shù)據(jù)超過設(shè)置值的情況，在開啟報警時會發(fā)出報警聲。

由于IR1和IR2在內(nèi)部處理(不顯示)，如方式1所述原因，等效電阻的顯示往往比主觀想象的小，且有一定擺動，當(dāng)屬正常情況。

由于本機在方式2時電壓分辨率為1V，故方式2不適合測試30V以下的穩(wěn)壓/雪崩管，以免影響準(zhǔn)確性。

測試時涉及IR很微小時，環(huán)境交流干擾顯得巨大。連接(+)測試孔的線應(yīng)用屏蔽線且將屏蔽層連接到(┷)接地孔，線端的測試筆和放置被測管的臺面亦相應(yīng)屏蔽。另外，人手會感應(yīng)到強大的交流干擾，因此不要用手按住被測試管。

    控制接口：        (含自動測試功能的機型BR2940FZ)

1：信號輸出(不合格輸出為高) 

13：觸發(fā)輸入(↓) 寬度15-100μs

14：送光傳感器正電流(10mA)

                      6-8：共地。

注意！插頭插入面板孔后請不要旋轉(zhuǎn)，否則旋松了面板孔后螺絲，銅芯中心碰到面板造成短路，就表現(xiàn)出電壓不穩(wěn)定。

四：工作原理：

高壓部分包括高頻高壓發(fā)生器，它由TR1、2，IC1、2和高壓變壓器組成。

IC1組成自激式電壓諧振開關(guān)電源控制器，它發(fā)生關(guān)斷時間固定的脈沖去控制TR2，在IC1輸出開通TR2期間高壓變壓器B1儲存能量，在IC1發(fā)出關(guān)斷TR2的期間，高壓變壓器產(chǎn)生高壓。如高壓太高，R12-13及R14、W4的分壓使TR1導(dǎo)通，從而IC2導(dǎo)通使IC1的開通TR2時間變短從而高壓變壓器B1儲存能量變少，于是高壓變低，達(dá)到高壓穩(wěn)壓的目的。TR5和J1為VR高低檔轉(zhuǎn)換用。

測試電壓基準(zhǔn)由DA轉(zhuǎn)換器IC7在CPU的指令下產(chǎn)生，經(jīng)IC4B控制TR4產(chǎn)生。TR3為2mA的恒流負(fù)載，亦在TR4關(guān)閉時，TR3可輸出2mA的測試電流，又不會導(dǎo)致高壓功耗過大。測試電壓由R15-16及R19返回IC4B來穩(wěn)定。

IR電流經(jīng)R18送IC3放大，在CPU的控制下IC5作量程控制用。IC4A將IR信號倒相后送IC6（AD轉(zhuǎn)換器）轉(zhuǎn)換成為數(shù)字交CPU處理。

CPU是整機指揮控制的核心，它控制AD和DA，還經(jīng)IC5控制量程，經(jīng)TR5控制輸出電壓檔位，經(jīng)TR6控制訊響器，以及控制液晶顯示。CPU還接受鍵盤輸入和經(jīng)IC8將設(shè)置數(shù)據(jù)保存，以便下次開機自動調(diào)出顯示和修改，以方便用戶使用本機。

CPU(微處理器)編號IC10，它負(fù)責(zé)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理和輸入輸出工作。

4種測試方式的原理有所不同：

方式0是簡單的，在被測管上加VRM反向電壓，測試反向電流即可。

方式3是在方式0基礎(chǔ)上待電容充滿電再測試，故測試速度稍慢。

方式1是反向電壓從VRn(小值)開始，測試一下反向電流加5%的測試電壓,如此反復(fù)，直到反向電流超出設(shè)置值或反向電壓達(dá)VRm為止，這時讀出所加的反向電壓和電流。

方式2是在方式1測得在反向電流IRn下的反向電壓1和在反向電流IRm下的反向電壓2(類似方式1測試2次)，然后按以下公式計算Rr：

五：檢驗方法；

1:功能的檢驗：

在方式0-2和不同反向電壓的二極管在儀器上測試，檢查各功能應(yīng)無異常。

    2:VR的檢驗：

      VR的幅度在方式0條件下設(shè)定VRm,由數(shù)字電壓表測量。

3:IR的檢驗：

  IR在VR合格后檢驗，在方式0條件下，將1、10、100M電阻R聯(lián)接左右接線柱，設(shè)置VR和按IR=VR/R預(yù)置IR，且進入測試并讀出IR值。讀出值應(yīng)扣除VR誤差帶來的影響。IR=2mA檔的測試,只測到1mA為止。